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期刊简称:J MICRO-NANOPATTERN
期刊全称:Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3
ISSN1932-5150
影响因子2023:1.556 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(材料科学及交叉学科)-MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY
SCIE-(纳米科学与纳米技术)-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
SCIE-(光学)-OPTICS
出版商:SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
发行地址:1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences;
Essential Science Indicators

派博
系数
SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3历年派博系数(Pindex)
派博
系数
专业
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Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3派博系数(Pindex)学科排名@SCIE电气和电子工程
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SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3历年拒稿占比
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体裁
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SCIE期刊Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3体裁与题裁多样性
专业
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SCIE期刊J MICRO-NANOPATTERN浏览与下载频次 派博传思
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J MICRO-NANOPATTERN图表质量排名@SCIE工程、电气和电子

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