| 期刊全称: | IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing |
| 影响因子2023: | 4.734 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新) |
| 出版商: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| 发行地址: | 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 |
| 索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences;
Essential Science Indicators
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派博
系数 | SCIE期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing历年派博系数(Pindex)
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派博
系数
专业
排名 | IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing派博系数(Pindex)学科排名@SCIE影像科学与摄影技术
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拒稿
占比 | SCIE期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing历年拒稿占比
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拒稿
占比
排名 | IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing拒稿率学科排名@SCIE影像科学与摄影技术
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审稿
周期 | SCIE期刊IEEE J-STARS审稿周期 派博传思
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审稿
周期
排名 | IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing审稿周期排名@SCIE影像科学与摄影技术 派博传思
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体裁
题材 | SCIE期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing体裁与题裁多样性
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专业
排名 | IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing体裁与题裁多样性排名@SCIE影像科学与摄影技术
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浏览
下载
频次 | SCIE期刊IEEE J-STARS浏览与下载频次 派博传思
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浏览
下载
频次
排名 | IEEE J-STARS浏览与下载频次排名@SCIE成像科学与摄影技术
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| IEEE J-STARS中国大陆署名作者数量
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| IEEE J-STARS中国大陆署名作者占比 @ SCIE成像科学与摄影技术
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| IEEE J-STARS图表质量
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| IEEE J-STARS图表质量排名@SCIE成像科学与摄影技术
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