影响因子 > SCIE > 计算机硬件与建筑
期刊简称:IEEE DES TEST
期刊全称:IEEE Design & Test
ISSN2168-2356
影响因子2023:1.909 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(计算机硬件与建筑)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators

派博
系数
SCIE期刊IEEE Design & Test历年派博系数(Pindex)
派博
系数
专业
排名
IEEE Design & Test派博系数(Pindex)学科排名@SCIE计算机硬件与建筑
拒稿
占比
SCIE期刊IEEE Design & Test历年拒稿占比
拒稿
占比
排名
IEEE Design & Test拒稿率学科排名@SCIE计算机硬件与建筑
审稿
周期
SCIE期刊IEEE DES TEST审稿周期 派博传思
审稿
周期
排名
IEEE Design & Test审稿周期排名@SCIE计算机硬件与建筑 派博传思
体裁
题材
SCIE期刊IEEE Design & Test体裁与题裁多样性
专业
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IEEE Design & Test体裁与题裁多样性排名@SCIE计算机硬件与建筑
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SCIE期刊IEEE DES TEST浏览与下载频次 派博传思
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IEEE DES TEST浏览与下载频次排名@SCIE计算机科学、硬件与体系结构
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IEEE DES TEST中国大陆署名作者占比 @ SCIE计算机科学、硬件与体系结构
IEEE DES TEST图表质量
IEEE DES TEST图表质量排名@SCIE计算机科学、硬件与体系结构
SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.909
2022年2.082
2021年2.223
2020年1.527
2019年2.409
2018年3.022
2017年1.538
2016年1.366
2015年0.681
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年38/51
2022年37/54
2021年34/54
2020年36/53
2019年25/53
2018年14/53
2017年24/52
2016年34/52
2015年35/51
SCIE期刊索引论文
2023年59
2022年61
2021年61
2020年54
2019年40
2018年50
2017年37
2016年53
2015年40
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年35/51
2022年36/54
2021年39/54
2020年45/53
2019年45/53
2018年47/53
2017年NULL/52
2016年NULL/52
2015年NULL/51
SCIE期刊总引频次
2023年1407
2022年1,511
2021年1,455
2020年1,338
2019年1,259
2018年1,384
2017年1,199
2016年1,282
2015年745
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年35/51
2022年37/54
2021年35/54
2020年34/53
2019年31/53
2018年30/53
2017年30/52
2016年28/52
2015年30/51
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年35/51
2022年37/54
2021年35/54
2020年34/53
2019年31/53
2018年30/53
2017年30/52
2016年28/52
2015年30/51
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年35/51
2022年37/54
2021年35/54
2020年34/53
2019年31/53
2018年30/53
2017年30/52
2016年28/52
2015年30/51
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年35/51
2022年37/54
2021年35/54
2020年34/53
2019年31/53
2018年30/53
2017年30/52
2016年28/52
2015年30/51

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